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X熒光光譜儀的優(yōu)點

更新時間:2017-07-24       點擊次數(shù):2583
X熒光光譜儀是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時受基體的影響小,在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。

X熒光光譜儀的原理:元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷,同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長與元素的原子序數(shù)有關。
根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個光具有的能量。因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。

X熒光光譜儀的優(yōu)點:
 
1、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析
2、分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別
3、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析
4、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量,結果重現(xiàn)性好。
5、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。
6、分析速度快。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,10~300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。